Endre søk
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Analytical method for the identification of a thin-strip defect in a planar waveguide
KTH, Skolan för elektro- och systemteknik (EES), Elektroteknisk teori och konstruktion.ORCID-id: 0000-0002-3401-1125
2006 (engelsk)Inngår i: Journal of the Optical Society of America a-Optics Image Science and Vision, ISSN 1084-7529, Vol. 23, nr 10, s. 2650-2656Artikkel i tidsskrift (Fagfellevurdert) Published
sted, utgiver, år, opplag, sider
2006. Vol. 23, nr 10, s. 2650-2656
Emneord [en]
principles, devices
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:kth:diva-16013ISI: 000240858500029Scopus ID: 2-s2.0-33751207072OAI: oai:DiVA.org:kth-16013DiVA, id: diva2:334055
Merknad
QC 20100525Tilgjengelig fra: 2010-08-05 Laget: 2010-08-05 Sist oppdatert: 2013-11-19bibliografisk kontrollert

Open Access i DiVA

Fulltekst mangler i DiVA

Scopus

Personposter BETA

He, Sailing

Søk i DiVA

Av forfatter/redaktør
He, Sailing
Av organisasjonen

Søk utenfor DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetric

urn-nbn
Totalt: 34 treff
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf