Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Contact printing for improved bond-strength of patterned adhesive full-wafer bonded 0-level packages
KTH, Tidigare Institutioner (före 2005), Signaler, sensorer och system.
KTH, Tidigare Institutioner (före 2005), Signaler, sensorer och system.ORCID-id: 0000-0001-9552-4234
2004 (Engelska)Ingår i: MEMS 2004: 17TH IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICRO ELECTRO MECHANICAL SYSTEMS, TECHNICAL DIGEST, New York: Ieee , 2004, s. 713-716Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Abstract [en]

This paper reports on a novel technology using Benzocyclobutene (BCB) contact printing to significantly improve the bond strength of a full-wafer adhesive bond with patterned BCB structures. The BCB pattern on the first wafer acts as a stamp which is 'inked' by an auxiliary wafer containing a thin layer of uncured BCB. The wafer with the 'inked' stamp is then bonded to the second wafer. Tensile strength test are carried out on patterned adhesive bonded samples with and without the contact printing method. The tests show that the contact printing technique makes the bond strength of patterned BCB stronger by a factor of at least 2.3, and the bond strength even exceeds the adhesion forces of the BCB spun onto the substrate. Furthermore, this paper presents a way of how this technique is used for 0-level glass-lid packaging by full-wafer adhesive bonding. Here, the encapsulating lids are separated after the bonding by dicing the top wafer independently of the bottom wafer.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
New York: Ieee , 2004. s. 713-716
Serie
PROCEEDINGS: IEEE MICRO ELECTRO MECHANICAL SYSTEMS WORKSHOP, ISSN 1084-6999
Nyckelord [en]
cavities, devices
Nationell ämneskategori
Systemvetenskap, informationssystem och informatik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:kth:diva-13794ISI: 000189435200177Scopus ID: 2-s2.0-3042781462ISBN: 0-7803-8265-X (tryckt)OAI: oai:DiVA.org:kth-13794DiVA, id: diva2:327414
Konferens
17th IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems Maastricht, NETHERLANDS, JAN 25-29, 2004
Anmärkning

QC 20100629

Tillgänglig från: 2010-06-29 Skapad: 2010-06-29 Senast uppdaterad: 2020-01-17Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

ScopusIEEE Xplore

Personposter BETA

Stemme, Göran

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Oberhammer, JoachimStemme, Göran
Av organisationen
Signaler, sensorer och system
Systemvetenskap, informationssystem och informatik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

isbn
urn-nbn

Altmetricpoäng

isbn
urn-nbn
Totalt: 81 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf