Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Rutherford back-scattering spectrometry and recoil spectrometry
KTH, Skolan för informations- och kommunikationsteknik (ICT). (Solid State Electronics)ORCID-id: 0000-0002-5845-3032
2007 (Engelska)Ingår i: Surface Characterization: A User's Sourcebook, Wiley-Blackwell, 2007, s. 254-271Kapitel i bok, del av antologi (Övrigt vetenskapligt)
Resurstyp
Text
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
Wiley-Blackwell, 2007. s. 254-271
Nyckelord [en]
Recoil spectrometry, Rutherford Back-scattering Spectrometry, Scattering kinematics, Stoichiometry of silicide layer, Thin metal film
Nationell ämneskategori
Annan teknik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:kth:diva-181297DOI: 10.1002/9783527612451.ch16Scopus ID: 2-s2.0-84950152272ISBN: 9783527612451 (tryckt)OAI: oai:DiVA.org:kth-181297DiVA, id: diva2:903738
Anmärkning

QC 20160216

Tillgänglig från: 2016-02-16 Skapad: 2016-01-29 Senast uppdaterad: 2016-02-16Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltextScopus

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Östling, Mikael
Av organisationen
Skolan för informations- och kommunikationsteknik (ICT)
Annan teknik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
isbn
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
isbn
urn-nbn
Totalt: 10 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf