Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Can Dark Silicon Be Exploited to Prolong System Lifetime?
Visa övriga samt affilieringar
2017 (Engelska)Ingår i: IEEE design & test, ISSN 2168-2356, E-ISSN 2168-2364, Vol. 34, nr 2, s. 51-59Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC , 2017. Vol. 34, nr 2, s. 51-59
Nationell ämneskategori
Elektroteknik och elektronik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:kth:diva-206270DOI: 10.1109/MDAT.2016.2630317ISI: 000396240300007Scopus ID: 2-s2.0-85014721125OAI: oai:DiVA.org:kth-206270DiVA, id: diva2:1095218
Anmärkning

QC 20170512

Tillgänglig från: 2017-05-12 Skapad: 2017-05-12 Senast uppdaterad: 2017-05-12Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltextScopus

Personposter BETA

Tenhunen, Hannu

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Tenhunen, Hannu
Av organisationen
Integrerade komponenter och kretsar
I samma tidskrift
IEEE design & test
Elektroteknik och elektronik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 348 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf