Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Scanning capacitance microscopy investigations of lnGaAs/InP quantum wells
KTH, Tidigare Institutioner, Mikroelektronik och informationsteknik, IMIT.
KTH, Tidigare Institutioner, Mikroelektronik och informationsteknik, IMIT.
KTH, Tidigare Institutioner, Mikroelektronik och informationsteknik, IMIT.
2004 (Engelska)Ingår i: Thin Solid Films, ISSN 0040-6090, E-ISSN 1879-2731, Vol. 459, nr 02-jan, s. 67-70Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Abstract [en]

In this work, cross-sectional scanning capacitance microscopy (SCM) is used to investigate InGaAs/InP (latticed matched) quantum wells grown by metal-organic vapor phase epitaxy. Using n-doped InP as barriers with different doping levels, different InGaAs wells structures (5, 10 and 20 nm) were investigated. The capability of SCM to detect electrons in the quantum wells is demonstrated, showing in addition, a systematic and consistent trend for the different well widths and barrier doping levels. The SCM results are qualitatively consistent with electron distribution obtained for 1D Poisson/Schrodinger simulation. Finally, resolution issues in SCM are discussed in terms of tip averaging effects.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2004. Vol. 459, nr 02-jan, s. 67-70
Nyckelord [en]
quantum-wells, band-offset, scanning capacitance microscopy, resolution InP, gainp
Nationell ämneskategori
Materialteknik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:kth:diva-23523DOI: 10.1016/j.tsf.2003.12.097ISI: 000222217100015Scopus ID: 2-s2.0-2942563975OAI: oai:DiVA.org:kth-23523DiVA, id: diva2:342221
Anmärkning
QC 20100525 QC 20111018. nces: 12 [ view related records ] Citation MapCitation Map Conference: 8th European Vacuum Congress (EVC-8)/2nd Annual Conference of the German-Vacuum-Society (DVG). Berlin, GERMANY. JUN 23-26, 2003 Tillgänglig från: 2010-08-10 Skapad: 2010-08-10 Senast uppdaterad: 2017-12-12Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltextScopus

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Douheret, OlivierMaknys, KestutisAnand, Srinivasan
Av organisationen
Mikroelektronik och informationsteknik, IMIT
I samma tidskrift
Thin Solid Films
Materialteknik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 35 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf