Single-photon emitters (SPEs) are essential building blocks for quantum photonics. In recent decades, numerous solid-state SPEs have been discovered, offering emission across various wavelengths and operating conditions, and showing great potential for scalable quantum photonic platforms. However, realizing large-scale applications requires efficient and high-throughput characterization, which remains insufficiently explored.Here, we present a quantum microscope, which is a universal platform compatible with the investigation of different types of solid-state SPEs. By integrating super- conducting nanowire single-photon detectors (SNSPDs), our system enables precise photon counting and reliable identification of individual emitters. Using this platform, we demonstrate measurements on both defects in hexagonal boron nitride (hBN) and semiconductor quantum dots, showcasing its adaptability across material systems. We further discuss methods to improve measurement efficiency, including a machine learning classifier that accelerates the selection of SPEs based on second-order auto- correlation measurements. Our work provides a versatile platform for large-scale and efficient characterization of solid-state single-photon emitters, thereby advancing the development of scalable quantum photonic systems.

Enfotonsemittorer (SPE:er) är grundläggande byggstenar inom kvantfotonik. Under de senaste decennierna har ett stort antal fasta tillstånds-SPE:er upptäckts, vilka erbjuder emission vid olika våglängder och under varierande driftsförhållanden, och därmed visar stor potential för skalbara kvantfotoniska plattformar. För att möjlig- göra storskaliga tillämpningar krävs dock effektiva och höggenomströmningsmässiga karakteriseringsmetoder, vilket fortfarande är otillräckligt utforskat.Här presenterar vi ett kvantmikroskop, en universell plattform som är kompatibel med undersökningen av olika typer av fasta tillstånds-SPE:er. Genom att integrera supraledande nanotråds-enfoton-detektorer (SNSPD:er) möjliggör vårt system exakt fotonräkning och tillförlitlig identifiering av individuella emitters. Med denna plat- tform demonstrerar vi mätningar på både defekter i hexagonalt bornitrid (hBN) och halvledar-kvantprickar, vilket visar dess mångsidighet över olika materialsystem. Vi diskuterar vidare metoder för att förbättra mäteffektiviteten, inklusive en maskinin- lärningsklassificerare som påskyndar urvalet av SPE:er baserat på andragradskor- relationsmätningar. Vårt arbete tillhandahåller således en mångsidig plattform för storskalig och effektiv karakterisering av fasta tillstånds-enfotonsemittorer, och bidrar därigenom till utvecklingen av skalbara kvantfotoniska system.