kth.sePublikationer KTH
Driftstörningar
Det förekommer återkommande driftstörningar på några av sök-portalerna på grund av hög belastning. Vi arbetar på att lösa problemet, ni kan tillfälligt mötas av ett felmeddelande.
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Extraction of digital wavefront sets using applied harmonic analysis and deep neural networks
KTH, Skolan för teknikvetenskap (SCI), Matematik (Inst.).ORCID-id: 0000-0002-1118-6483
2019 (Engelska)Ingår i: SIAM Journal on Imaging Sciences, E-ISSN 1936-4954, Vol. 12, nr 4, s. 1936-1966Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Abstract [en]

Microlocal analysis provides deep insight into singularity structures and is often crucial for solving inverse problems, predominately, in imaging sciences. Of particular importance is the analysis of wavefront sets and the correct extraction of those. In this paper, we introduce the first algorithmic approach to extract the wavefront set of images, which combines data-based and model-based methods. Based on a celebrated property of the shearlet transform to unravel information on the wavefront set, we extract the wavefront set of an image by first applying a discrete shearlet transform and then feeding local patches of this transform to a deep convolutional neural network trained on labeled data. The resulting algorithm outperforms all competing algorithms in edge-orientation and ramp-orientation detection.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
Society for Industrial & Applied Mathematics (SIAM) , 2019. Vol. 12, nr 4, s. 1936-1966
Nyckelord [en]
Convolutional neural networks, Deep learning, Shearlets, Wavefront set, Convolution, Data mining, Extraction, Image processing, Inverse problems, Neural networks, Wavefronts, Algorithmic approach, Competing algorithms, Convolutional neural network, Microlocal analysis, Model-based method, Orientation detections, Shearlet transforms, Deep neural networks
Nationell ämneskategori
Elektroteknik och elektronik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:kth:diva-268578DOI: 10.1137/19M1237594ISI: 000545944800013Scopus ID: 2-s2.0-85077054159OAI: oai:DiVA.org:kth-268578DiVA, id: diva2:1428689
Anmärkning

QC 20200506

Tillgänglig från: 2020-05-06 Skapad: 2020-05-06 Senast uppdaterad: 2024-04-25Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltextScopus

Person

Öktem, Ozan

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Öktem, Ozan
Av organisationen
Matematik (Inst.)
I samma tidskrift
SIAM Journal on Imaging Sciences
Elektroteknik och elektronik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 382 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf