kth.sePublikationer KTH
Driftstörningar
Det förekommer återkommande driftstörningar på några av sök-portalerna på grund av hög belastning. Vi arbetar på att lösa problemet, ni kan tillfälligt mötas av ett felmeddelande.
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Thermal Contact Resistance Improvement Between Clip Attached TO-247 Package and Heat Sink with Insertion of an Ultra-Thin Interlayer Silver Film
KTH, Skolan för elektroteknik och datavetenskap (EECS), Elektroteknik, Elkraftteknik.ORCID-id: 0000-0002-8712-9899
KTH, Skolan för elektroteknik och datavetenskap (EECS), Elektroteknik, Elkraftteknik.ORCID-id: 0000-0002-1755-1365
2025 (Engelska)Ingår i: 31st International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems, THERMINIC 2025 - Proceedings, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) , 2025Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Abstract [en]

We report lower experimental values of thermal contact resistance between TO-247 package and aluminum heat sink compared to calculated values, achieved by introduction of an ultra-thin interlayer silver film. In the calculation of thermal contact resistance, we have also analyzed the effect of air pressure inside the microscopic voids within the interface. The probable explanation of the lowered thermal contact resistance is a mechanical pressure dependent softening of the ultra-thin films, filling out microscopic voids.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) , 2025.
Nyckelord [en]
TIM, TO 247, component, electronics cooling, power package, thermal conductance, thermal contact resistance, thermal interface material
Nationell ämneskategori
Elkraftsystem och -komponenter
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:kth:diva-385513DOI: 10.1109/THERMINIC65879.2025.11216892Scopus ID: 2-s2.0-105023641410OAI: oai:DiVA.org:kth-385513DiVA, id: diva2:2086570
Konferens
31st International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems, THERMINIC 2025, Naples, Italy, September 24-26, 2025
Anmärkning

Part of ISBN 9798331594862

QC 20260715

Tillgänglig från: 2026-07-15 Skapad: 2026-07-15 Senast uppdaterad: 2026-07-15Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltextScopus

Person

Toth-Pal, ZsoltNee, Hans-Peter

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Toth-Pal, ZsoltNee, Hans-Peter
Av organisationen
Elkraftteknik
Elkraftsystem och -komponenter

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 6 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf