kth.sePublikationer KTH
Driftstörningar
Det förekommer återkommande driftstörningar på några av sök-portalerna på grund av hög belastning. Vi arbetar på att lösa problemet, ni kan tillfälligt mötas av ett felmeddelande.
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
An experimentally validated electro-thermal compact model for 4H-SiC power diodes
KTH, Skolan för elektro- och systemteknik (EES), Elektrisk energiomvandling.
KTH, Skolan för elektro- och systemteknik (EES), Elektrisk energiomvandling.ORCID-id: 0000-0002-1755-1365
2001 (Engelska)Ingår i: Proc. of IEEE International Symposium on Industrial Electronics ISIE, 12-16 June 2001, vol. 2. / [ed] IEEE, 2001, s. 1345-1350Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Abstract [en]

The implementation of a circuit-oriented model for high-current, high-voltage 4H-SiC power diodes is presented. The compact modeling technique used presents a good trade-off between accuracy and speed for modeling of bipolar power devices, and a high flexibility for inclusion of various physical models. Implementation in the SABER circuit simulator of the model is performed using the MAST hardware description language (HDL). Up-to-date physical models for 4H-SiC semiconductor materials including thermal dependence, which are relevant for the device switching behavior are evaluated and implemented in the compact model. Simulation results using the proposed model are compared to both measurements and device simulations on 2.5 kV, 400 A Si-IGBT/4H-SiC diode modules from ABB at various circuit and temperature conditions. The model has proven to be a valuable simulation tool for investigation of future power circuit designs based on SiC technology.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2001. s. 1345-1350
Nyckelord [en]
2.5 kV, 400 A, 4H-SiC power diodes, 4H-SiC semiconductor materials, H-SiC, MAST hardware description language, SABER circuit simulator, bipolar power devices, circuit-oriented model, compact modeling technique, device switching behavior, electro-thermal compact model, modelling accuracy, modelling speed, thermal dependence
Nationell ämneskategori
Elektroteknik och elektronik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:kth:diva-120089DOI: 10.1109/ISIE.2001.931677OAI: oai:DiVA.org:kth-120089DiVA, id: diva2:613364
Konferens
ISIE 2001
Anmärkning
NR 20140805Tillgänglig från: 2013-03-27 Skapad: 2013-03-27 Senast uppdaterad: 2022-06-24Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltext

Person

Nee, Hans-Peter

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Nee, Hans-Peter
Av organisationen
Elektrisk energiomvandling
Elektroteknik och elektronik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 119 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf